閉じる
画像が削除されました

半導体製造工場向け安全・教育研修をデジタル推進 ~次世代のAI認証eラーニングプラットフォーム『ONLINE FACE(R)』(オンラインフェイス)を活用し、入構者教育から継続研修まで包括支援~:マピオンニュースの注目トピック – Mapion

マピオンが提供するマピオンニュースへようこそ。注目のトピックを紹介します。教育コストの最適化と事故防止を両立、安全・品質・環境・技術の包括的教育をDX支援! [画像1: https://prcdn.f...
画像が削除されました

半導体製造工場向け安全・教育研修をデジタル推進 ~次世代のAI認証eラーニングプラットフォーム『ONLINE FACE(R)』(オンラインフェイス)を活用し、入構者教育から継続研修まで包括支援~ – 時事ドットコム

[アカメディア・ジャパン株式会社]教育コストの最適化と事故防止を両立、安全・品質・環境・技術の包括的教育をDX支援!アカメディア・ジャパン株式会社(代表取締役:菊池 参、所在地:東京都中央区)は、独自...
画像が削除されました

(プレスリリース)半導体製造工場向け安全・教育研修をデジタル推進 ~次世代のAI認証eラーニングプラットフォーム『ONLINE FACE(R)』(オンラインフェイス)を活用し、入構者教育から継続研修まで包括支援 – ニフティニュース

教育コストの最適化と事故防止を両立、安全・品質・環境・技術の包括的教育をDX支援!アカメディア・ジャパン株式会社(代表取締役:菊池 参、所在地:東京都中央区)は、独自開発のAI特許技術を活用したeラー...
画像が削除されました

AIデータ社、“半導体・AIインフラ製造に、現場対応できる生成AIを” 「AI ChipInfra on – ニコニコニュース

企業データとAIの利活用カンパニー、AIデータ株式会社(本社:東京都港区、代表取締役社長 佐々木隆仁、以下AIデータ社)は、先端半導体・AIインフラ製造業に特化した生成AIソリューション『AI Chi...
画像が削除されました

【10月8日(水)、10月16日(木)12:00~ 無料オンラインセミナー】海外事例から学ぶ!生成AIによる半導体製造プロセス革新と競争優位性 – rbbtoday.com

メタリアル・グループの株式会社ロゼッタ(代表取締役:五石 順一)は、無料オンラインセミナー「海外事例から学ぶ!生成AIによる半導体製造プロセス革新と競争優位性」を10月8日(水)および10月16日(…
画像が削除されました

【10月8日(水)、10月16日(木)12:00~ 無料オンラインセミナー】海外事例から学ぶ!生成AIによる半導体製造プロセス革新と競争優位性 – PR TIMES

株式会社メタリアルのプレスリリース(2025年9月30日 15時30分)【10月8日(水)、10月16日(木)12:00~ 無料オンラインセミナー】海外事例から学ぶ!生成AIによる半導体製造プロセス革...
画像が削除されました

“2ナノ半導体”製造に欠かせない「EUV」関連銘柄を解説! ラピダスの2ナノ半導体の開発を支える「EUV露光装置」は次世代半導体製造に必要な標準的技術に! – ダイヤモンド・オンライン

「EUV」関連銘柄について、アナリストの村瀬智一さんが解説。最先端半導体の国産化を目指す半導体製造会社のラピダスは、7月18日に国内で初めて「2ナノ半導体」の試作に成功したと発表しました。2ナノ半導体...
画像が削除されました

AI活用で半導体薄膜の材料分析を自動化、NTTが新手法:光通信用デバイスの製造効率向上に – EE Times Japan

NTTは、光通信用デバイスに用いる半導体薄膜の成膜条件を自動導出する手法を開発した。AIを用いた分析に半導体物性の知識を組み合わせることで精度を高めたものだ。これによって、デバイス製造業務の効率化が実...
画像が削除されました

マイクロン、1γノードDRAMのサンプル出荷を開始、未来のコンピューティング・ニーズに応えるメモリ技術を切り拓く – PR TIMES

マイクロンメモリジャパン株式会社のプレスリリース(2025年2月27日 18時57分)マイクロン、1γノードDRAMのサンプル出荷を開始、未来のコンピューティング・ニーズに応えるメモリ技術を切り拓く
画像が削除されました

写真:【東芝】高低差がナノスケールの極微小な欠陥をワンショットで3D形状に可視化する光学検査技術を開発 -独自の光学機器とアルゴリズムで、半導体製造における極微小な欠陥を1枚の撮像画像から瞬時に識別- – 沖縄タイムス

法人・企業向け写真二次利用販売サービスwebサイトで写真を選択して申し込みができるようになりました。探している写真が見つからない場合は、お気軽にご連絡してください。
画像が削除されました

写真:【東芝】高低差がナノスケールの極微小な欠陥をワンショットで3D形状に可視化する光学検査技術を開発 -独自の光学機器とアルゴリズムで、半導体製造における極微小な欠陥を1枚の撮像画像から瞬時に識別- – 沖縄タイムス

法人・企業向け写真二次利用販売サービスwebサイトで写真を選択して申し込みができるようになりました。探している写真が見つからない場合は、お気軽にご連絡してください。