NTTが機械学習を活用した半導体薄膜の新材料分析手法、複数回の実験回数を1回に – 日経クロステック 2025年5月2日2025年7月18日ai NTTは2025年5月2日、光通信用デバイスに使う半導体薄膜の成膜条件をAIで導き出す新手法を実現したと発表した。機械学習手法の1つであるベイズ最適化を用いつつ、半導体物性の知識を組み合わせた工夫を施...