写真:【東芝】高低差がナノスケールの極微小な欠陥をワンショットで3D形状に可視化する光学検査技術を開発 -独自の光学機器とアルゴリズムで、半導体製造における極微小な欠陥を1枚の撮像画像から瞬時に識別- – 沖縄タイムス 2025年2月26日2025年7月16日ai 法人・企業向け写真二次利用販売サービスwebサイトで写真を選択して申し込みができるようになりました。探している写真が見つからない場合は、お気軽にご連絡してください。